Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II

Význam tématu

Miniaturizace elektronických zařízení zvyšuje riziko vzniku mikroskopických kontaminací, které mohou vést k poruchám a snížení spolehlivosti. FTIR mikroskopie umožňuje chemickou identifikaci organických i anorganických látek v mikrometrovém měřítku, což je klíčové pro kontrolu kvality a odhalení zdrojů kontaminace.

Cíle a přehled studie / článku

Účelem analýzy pomocí samostatného FTIR mikroskopu LUMOS II je demonstrovat schopnost rychlé a přesné detekce a identifikace kontaminací na povrchu CMOS obrazového čipu a okolních kontaktů desky plošných spojů. Studie ukazuje praktické aplikace pro sledování polymerních, proteinových a lipidových nečistot.

Použitá metodika a instrumentace

FTIR mikroskop LUMOS II poskytuje plně integrované řešení se zabudovaným spektrometrem, motorizovaným ATR kristálem a třemi režimy měření (ATR, transmisní, reflexní). Vestavěné rozhraní OPUS Video-wizard vede uživatele všemi kroky měření, včetně automatizovaného sběru pozadí a vzorku. Vzorky jsou analyzovány s vysokým laterálním rozlišením a hloubkou ostrosti.

Hlavní výsledky a diskuse

Analýzou CMOS senzoru bylo zjištěno:

• Ochranná polymerní vrstva PMMA:Butadiene pokrývající Bayerovu matici.
• Polyamidní a proteinové kontaminace na barevných filtrech.
• Čisté kovové kontakty bez mid-IR absorpce.

Na desce plošných spojů byly identifikovány:

• Polyamidní otisk na zlacených kontaktech.
• Lipidový film na kovovém povrchu.
• Epoxidová pryskyřice v okolních strukturách.
• Silikonové pájecí laky jako povrchová ochrana.

FTIR spektroskopie odhalila kontaminace neviditelné pouhým okem.

Přínosy a praktické využití metody

FTIR mikroskopie LUMOS II umožňuje rychlou, automatizovanou a uživatelsky přívětivou analýzu i pro začínající laboratoře. Technologie šetří čas díky integrovanému softwaru a spektrálním knihovnám, odstraňuje složité postupy a zvyšuje reprodukovatelnost výsledků.

Budoucí trendy a možnosti využití

Očekává se rozšíření FTIR mikroskopie s vyšším prostorovým rozlišením, kombinace s chemometrickými metodami a umělou inteligencí pro automatickou klasifikaci kontaminací a nasazení v inline monitoringu výrobních procesů.

Závěr

Stand-alone FTIR mikroskop LUMOS II představuje efektivní a spolehlivý nástroj pro analýzu defektů a kontaminací v mikroelektronice. Díky plné automatizaci a jednoduchému ovládání nabízí výrazné úspory času, prostoru i provozních nákladů.

Reference

Žádné dostupné publikované zdroje.