Evaluation of Microscopic Foreign Matter in Recycled Plastics Using Dynamic Image Analysis, Infrared Microscopy, and SEM-EDS
Aplikace | 2025 | ShimadzuInstrumentace
Kvalita recyklovaných plastů je silně ovlivněna přítomností mikročástic cizorodých látek, které mohou negativně ovlivnit procesy výroby a vlastnosti finálních produktů.
Cílem studie bylo porovnat velikost a množství nerozpustných mikročástic ve vzorcích PET (virgin a recyklovaný) rozpuštěných v hexafluoro-2-propanolu (HFIP), a dále charakterizovat tyto částice pomocí optického zobrazování, infračervené mikroskopie a SEM-EDS.
Byly použity následující přístroje:
Kombinace dynamické analýzy obrazu částic, infračervené mikroskopie a SEM-EDS poskytuje komplexní přehled o množství, velikosti a složení mikročástic v recyklovaných PET materiálech a umožňuje cílené zlepšení postupů recyklace, optimalizaci filtračních kroků a kontrolu kvality finálních produktů.
Žádné explicitně uvedené literární citace.
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, Analýza velikosti částic
ZaměřeníMateriálová analýza, Životní prostředí
VýrobceShimadzu
Souhrn
Význam tématu
Kvalita recyklovaných plastů je silně ovlivněna přítomností mikročástic cizorodých látek, které mohou negativně ovlivnit procesy výroby a vlastnosti finálních produktů.
Cíle a přehled studie
Cílem studie bylo porovnat velikost a množství nerozpustných mikročástic ve vzorcích PET (virgin a recyklovaný) rozpuštěných v hexafluoro-2-propanolu (HFIP), a dále charakterizovat tyto částice pomocí optického zobrazování, infračervené mikroskopie a SEM-EDS.
Použitá metodika a instrumentace
Byly použity následující přístroje:
- iSpect DIA-10: Dynamická analýza obrazu částic pro kvantifikaci velikosti a koncentrace.
- IRTracer-100 a AIM-9000: Infračervená mikroskopie pro morfologii a identifikaci organických látek.
- SEM-EDS (ProX, Phenom World): Skanningová elektronová mikroskopie s energii-dispersní spektroskopií pro analýzu anorganického a kovového složení.
Hlavní výsledky a diskuse
- Recyklovaný PET obsahoval výrazně více mikročástic: přibližně 202 400 částic na gram peliet oproti 2 860 částicím/g u virgin materiálu.
- Velikost částic se pohybovala převážně v rozsahu 5–25 μm, přičemž recyklované vzorky vykazovaly i větší shluky až do 50 μm.
- Infračervená mikroskopie prokázala přítomnost organických látek, jako je celulóza a amidy, a odhalila rozdíly v optické propustnosti částic.
- SEM-EDS identifikovala anorganické částice bohaté na Ca a O (pravděpodobně uhličitany) a kovové částice obsahující Al, indikující různé zdroje kontaminace.
Přínosy a praktické využití metody
- Možnost rychlé a kvantitativní analýzy velikosti a počtu mikročástic s minimálním množstvím vzorku.
- Detailní chemická identifikace cizorodých látek pro optimalizaci filtračních a čisticích procesů v recyklaci PET.
- Podpora při výběru vhodných filtrů a plánování údržby zařízení za účelem zvýšení produktivity a snížení defektů výrobků.
Budoucí trendy a možnosti využití
- Rozšíření aplikace na další typy polymerních materiálů a směsí.
- Integrace senzorů a on-line monitoringu do výrobních linek pro kontinuální kontrolu kvality.
- Využití strojového učení pro automatickou klasifikaci tvarů a složení částic z obrazových dat.
- Vývoj přenosných nebo miniaturizovaných systémů pro rychlé analýzy přímo v provozech a laboratořích.
Závěr
Kombinace dynamické analýzy obrazu částic, infračervené mikroskopie a SEM-EDS poskytuje komplexní přehled o množství, velikosti a složení mikročástic v recyklovaných PET materiálech a umožňuje cílené zlepšení postupů recyklace, optimalizaci filtračních kroků a kontrolu kvality finálních produktů.
Reference
Žádné explicitně uvedené literární citace.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Analytical and Measuring Instruments for Microplastics
2020|Shimadzu|Postery
C10G-E083 Diverse Solutions for Improving the Marine Environment Analytical and Measuring Instruments for Microplastics Diverse Solutions for Improving the Marine Environment Tiny plastic fragments on the order of several µm to 5 mm are referred to as microplastics. In recent…
Klíčová slova
microplastics, microplasticsmeasurement, measurementmarine, marinemicroplastic, microplasticabs, absanalysis, analysisfusion, fusionmps, mpsdeepwater, deepwaterfishing, fishingdiverse, diverseheat, heatenvironment, environmentcollected, collectedmicroscope
Application News AGX -V2 AUTOGRAPH Precision Universal Testing Machine DUH -210 Dynamic Ultra Micro Hardness Tester DSC-60 Plus Differential Scanning Calorimeter AIRsight Infrared and Raman Microscope Multifaceted Evaluation of Changes in Physical Properties of Recycled Plastics by Advanced Recycling Process…
Klíčová slova
recycling, recyclingadvanced, advancedstrain, strainentanglements, entanglementspolymer, polymermicroscopic, microscopicprocess, processtest, testforeign, foreignphysical, physicalpiece, piecempa, mpaevaluation, evaluationbreak, breakmultifaceted
Analysis of Microplastics by iSpect™ DIA-10 Dynamic Particle Image Analysis System and AIM-9000 Infrared Microscope
2019|Shimadzu|Aplikace
Application News No. A605 Spectrophotometric Analysis Analysis of Microplastics by iSpect™ DIA-10 Dynamic Particle Image Analysis System and AIM-9000 Infrared Microscope Fine plastics with sizes on the order of several μm to several mm are called microplastics. Microplastics have become…
Klíčová slova
microplastics, microplasticsparticle, particlecount, countparticles, particlesanalysis, analysisenvironmental, environmentalqualitative, qualitativeinfrared, infraredaperture, aperturemarine, marineconcentration, concentrationshape, shapeimaging, imagingwater, waterimage
Equipment Used in Semiconductor Manufacturing Processes and Evaluation Examples
2025|Shimadzu|Brožury a specifikace
C10G-E106 Full Support for Processes Ranging from Manufacturing to Defect Analysis For Customers Involved in Semiconductor Manufacturing (Material Development, Processing, or Inspection) Wafer Manufacturing Processes Wafer Manufacturing Processes Evaluation of Wafer Surface Roughness Band Gap Measurement Scanning Probe Microscope UV-VIS-NIR…
Klíčová slova
evaluating, evaluatingtoc, tocwafer, waferfilms, filmsspm, spmmanufacturing, manufacturingmeasuring, measuringresist, resistparticle, particlexps, xpsanalyzer, analyzerplating, platingfilm, filmevaluation, evaluationprocess