GCMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Solutions for Plastic Evaluation

Příručky | 2013 | ShimadzuInstrumentace
Termální analýza, GC/SQ, LC/SQ, LC/MS, LC/TOF, GC/MSD, MALDI, GC, HeadSpace, HPLC, LC/IT, Mechanické zkoušky
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Shimadzu

Souhrn

Význam tématu


Analytické hodnocení plastových materiálů hraje klíčovou roli v průmyslu i výzkumu. Umožňuje kontrolu kvality surovin, vývoj nových polymerních produktů, odhalení skrytých vad a optimalizaci výrobních procesů. Díky pokročilým metodám lze sledovat chemické složení, strukturu, mechanické vlastnosti i obsah nebezpečných látek, což zajišťuje bezpečnost, shodu s normami a dlouhodobou životnost plastových výrobků.

Cíle a přehled studie


Cílem přehledu je představit ucelený soubor moderních analytických metod a přístrojů používaných pro hodnocení plastů v praxi: od kontroly hydroxylové hodnoty polyolů pomocí NIR-PLS, přes stanovení velikosti nanostiček, chromatografické a hmotnostně spektrometrické techniky, až po zobrazovací metody (SPM, CT) a termickou analýzu. Přehled zahrnuje metody vhodné pro kvalitu surovin, vývoj a kontrolu konečných výrobků i detekci nebezpečných příměsí.

Metodika a použitá instrumentace


Studie pokrývá následující metodologické oblasti:
  • NIR-PLS: rychlé stanovení hydroxylové hodnoty polypropylenglykolu.
  • Analýza velikosti částic: IG-1000 Single Nano Particle Size Analyzer.
  • HPLC/GPC preparativní separace s recyklací eluátu (Prominence).
  • FTIR-ATR: charakterizace polymerů, kopolymerů, isomerní složení (IRAfinity-1, IRPrestige-21).
  • GC/MS, LC/MS, LCMS-IT-TOF: kvalita polymerních přísad, strukturální predikce, sledování stopových látek.
  • MALDI-TOFMS: identifikace stopových přísad a kopolymerních nečistot (AXIMA).
  • Termická analýza (DSC, TMA, DTG): kvantifikace výztužných materiálů, karbonu, tání vody, krystalizace, lineární dilatace a smrštění.
  • SPM: 3D a fázové zobrazování lamelární struktury a mikrofázového dělení.
  • FTIR-mikroskopie: mapování přísad, analýza cizích částic, orientace molekul ve filmu.
  • UV-VIS a integrující sféra: difuzní odraz, měření barvitelnosti (SolidSpec, UV-2600/2700, UVmini).
  • Mechanické testy: statická pevnost (Autograph), únava (Servopulser), rázy (Hydroshot).
  • CT a fluorescenční radiografie: neporušená analýza vnitřní struktury FRP a rozložení vody v palivových článcích.
  • AA a ICP-AES: stanovení Cd, Pb, Cr, Hg a dalších kovů.
  • EDX-XRF: rychlé nedištruktivní stanovení RoHS/ELV prvků a halogenů.
  • Headspace GC: stanovení zbytkových rozpouštědel.

Hlavní výsledky a diskuse


Ve všech příkladech metody prokázaly vysokou citlivost, reprodukovatelnost a minimalizaci pracné přípravy vzorku. NIR-PLS dosáhla korelačního koeficientu 0,99996 pro hydroxylovou hodnotu, IG-1000 měřil částice od 0,5 nm s vysokou přesností, recyklace eluátu u GPC výrazně zlepšila separaci oligomerů. FTIR-ATR umožnilo přímé měření vzorků ve formě granulí, prášků i filmů, včetně isomerní kvantifikace a mapování adheziv. Hmotnostní spektrometrie (GC/MS, LC/MS, LCMS-IT-TOF, MALDI-TOFMS) spolehlivě detekovala desítky přísad a stopové nečistoty s přesností po tisícinách m/z. Termická analýza odhalila složitá termoplastická děje (tání, krystalizaci, dekompozici), teplotní přechody i lineární roztažnost. SPM a CT přinesly detailní prostorová zobrazení mikrostruktury polymerů a distribuce výplňových vláken či vody v palivových článcích. Mechanické testy nabídly přesná data pro návrh a QC plastových dílů. AA, ICP a EDX-XRF pokryly legislativní požadavky na těžké kovy i halogeny.

Přínosy a praktické využití


  • Rychlost a automatizace měření
  • Minimální či žádná předúprava vzorku
  • Vysoká citlivost i pro ultra stopové koncentrace
  • Schopnost mikro- a nano-analýzy
  • Komplexní pokrytí od surovin po konečný výrobek
  • Podpora vývoje, kontaminace, sledování procesů
  • Shoda s normami RoHS, ELV, JIS, ASTM

Budoucí trendy a možnosti využití


Do popředí se dostávají kombinované hyphenované techniky (GC×GC, LC-SFC-MS), pokročilá datová analýza s AI/ML, on-line monitoring v reálném čase, miniaturizace instrumentace, in-situ spektroskopie, multi-fyzikální zobrazování a testování za provozních podmínek (teplota, vlhkost, napětí). Důležitou roli budou hrát bezkontaktní detekční systémy, 3D mikroanalýzy a digitalizace laboratorních workflow.

Závěr


Soubor představených metod a přístrojů nabízí ucelenou platformu pro hodnocení plastových materiálů od základního složení až po mechanickou a funkční vlastnost. Integrace těchto technologií umožňuje rychlejší vývoj, efektivnější kontrolu kvality a zajištění shody s legislativou, což přispívá k udržitelnému a bezpečnému využití polymerních výrobků.

Použitá instrumentace


  • FTIR: IRAffinity-1, IRPrestige-21, DuraSamplIR II, AIM-8800
  • NIR: Antaris Turbo, NIR Heating Transmission Cell
  • HPLC/GPC: Prominence, recycling valve, Shim-pack GPC kolony
  • GC/MS: GCMS-QP2010 Ultra, EGA/PY-3030D, AOC-20i/s
  • LC/MS: LCMS-2020, LCMS-IT-TOF
  • MALDI-TOFMS: AXIMA Performance
  • Thermal analyzéry: DSC-60, TMA-60, DTG-60
  • SPM: SPM-9700, WET-SPM series
  • CT: inspeXio SMX-90CT, SMX-225CT
  • UV-VIS: SolidSpec-3700(DUV), UV-2600/2700, UVmini-1240, ISR-2600Plus
  • Mechanické testy: Autograph AG-X, Servopulser, Hydroshot HITS-T10
  • AA/ICP: AA-7000, AA-7000G, ICPE-9000
  • XRF: EDX-720, EDX-GP/LE
  • Headspace GC: GC-2014 + GCsolution

Reference


Žádné explicitně uvedené literární odkazy.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Electronics & Chemicals - Application Notebook
C10G-E070 Electronics & Chemicals Solutions for Electronics & Chemicals Application Notebook Introduction Both inorganic and organic analyses are indispensable for electronics industry and related chemical industries. Purposes of analysis are wide ranging, and data generated can give much insight for…
Klíčová slova
contents, contentsback, backmeasurement, measurementanalysis, analysislight, lighttransmittance, transmittancefilm, filmreflectance, reflectancespectra, spectraftir, ftiredx, edxnews, newswavelength, wavelengthsample, sampleusing
Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
C10G-E093 Support for Product Evaluation to Quality Control of Electronic Components Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Devices Shimadzu Analytical and Measuring Instruments Used in Electrical/Electronic Fields Electronic devices and semiconductor technologies support a variety of industries and add comfort…
Klíčová slova
measurement, measurementcircuit, circuitray, rayevaluation, evaluationelectronic, electronicobservation, observationboard, boardmicroscope, microscopespm, spmforce, forcefilm, filmanalysis, analysisimage, imagesolder, soldermachine
Fourier Transform Infrared Spectrophotometer IRSpirit-X Series - C103-E418A
C103-E418A Fourier Transform Infrared Spectrophotometer IRSpirit-X Series IRSpirit , Ready to Run ™ Space-Saving, Expandable • Great for Small Lab Spaces • Standard-Sized Sample Compartment in a Compact Bench FTIR Made Easier • IR Pilot ™ Pre-built Macro Program •…
Klíčová slova
irspirit, irspiritdehumidifier, dehumidifierabs, absedx, edxlabsolutions, labsolutionsinfrared, infraredftir, ftirfourier, fourierspectrophotometer, spectrophotometertransform, transformcontaminant, contaminantfunction, functiondata, datainterferometer, interferometerhumidity
Fourier Transform Infrared Spectrophotometer IRSpirit-X Series
C103-E418A Fourier Transform Infrared Spectrophotometer IRSpirit-X Series IRSpirit , Ready to Run ™ Space-Saving, Expandable • Great for Small Lab Spaces • Standard-Sized Sample Compartment in a Compact Bench FTIR Made Easier • IR Pilot ™ Pre-built Macro Program •…
Klíčová slova
irspirit, irspiritdehumidifier, dehumidifierabs, absedx, edxlabsolutions, labsolutionsinfrared, infraredftir, ftirfourier, fourierspectrophotometer, spectrophotometertransform, transformcontaminant, contaminantfunction, functioninterferometer, interferometerdata, datahumidity
Další projekty
LCMS
ICPMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.