GCMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
Syft Technologies
Syft Technologies
Společnost Syft Technologies navrhuje a vyrábí revoluční hmotnostní spektrometr (SIFT-MS), který umožňuje detekci prakticky všech plynných chemikálií až na pptv během několika sekund.
Tagy
HeadSpace
SIFT-MS
LinkedIn Logo

Continuous Headspace Analysis… and Beyond

ZÁZNAM | Proběhlo Čt, 30.4.2020
V páté epizodě naší série o automatizaci SIFT-MS popíšeme novou techniku kontinuální headspace analýzy (CHA), kterou Dr Perkins vyvinul pro měření stripování těkavých látek. (CHA není dynamický headspace!)
Přejít na webinář
Syft Technologies: The SIFT-MS Automation Series: Principles and Practice in Six Episodes!
Syft Technologies: The SIFT-MS Automation Series: Principles and Practice in Six Episodes!

In the fifth episode of our six-part SIFT-MS automation series, presenter, and global expert, Dr Mark Perkins describes the novel continuous headspace analysis (CHA) technique that he developed to measure stripping of volatiles. (Note that CHA is not to be confused with dynamic headspace analysis!)

In addition, Mark describes simple, very high-throughput gas sample bag analysis, plus touches on recent developments – including thermal desorption-SIFT-MS.

Automation of analysis is extremely important in modern analytical laboratories. How has it been achieved for SIFT-MS, a direct analysis technique?
Join our series presenter, and global authority in automated SIFT-MS, Dr Mark Perkins who describes in six episodes the principles and practice of SIFT-MS automation that make it an excellent fit for routine and R&D laboratories.

  • Episode 1: Why Automate Analysis?
  • Episode 2: Accelerate Static Headspace Analysis with SIFT-MS
  • Episode 3: Advanced Headspace Methods with SIFT-MS
  • Episode 4: Calibration Approaches for Automated SIFT-MS
  • Episode 5: Continuous Headspace Analysis… and Beyond
  • Episode 6: SIFT-MS Automation: Past, Present and Future

Benefit from Mark’s extensive SIFT-MS automation experience!

Presenter: Dr Mark Perkins (Senior Applications Chemist, Anatune, United Kingdom)

Host: Dr. Vaughan Langford (Principal Scientist / Consultant)

Syft Technologies
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Analysis of Aroma Components in Apples Using the Smart Aroma Database

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
GC/MSD, GC/SQ, HeadSpace
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Analysis of Acetaldehyde and Limonene in Recycled PET Using an HS-GCMS System (Carrier Gas: H2)

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
GC/MSD, GC/SQ, HeadSpace
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie

What Causes GC Capillary Column Performance Degradation, and How Can I Prevent It?

Technické články
| 2026 | Agilent Technologies
Instrumentace
Spotřební materiál, GC kolony
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní

Aromatic Component Analysis of Gasoline According to ASTM D5580 Using the Brevis GC- 2050 Gas Chromatograph

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Instrumentace
GC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie

Micro GC Analysis of Permanent Gas Impurities in PEM Fuel Cell-Grade Hydrogen

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
GC
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Další projekty
LCMS
ICPMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.