GCMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
Syft Technologies
Společnost Syft Technologies navrhuje a vyrábí revoluční hmotnostní spektrometr (SIFT-MS), který umožňuje detekci prakticky všech plynných chemikálií až na pptv během několika sekund.
Tagy
SIFT-MS
Logo of LinkedIn

Fourth North American SIFT-MS User Meeting - Day 2

ZÁZNAM | Proběhlo St, 22.7.2020
Společnost Syft Technologies Vás zve na on-line setkání severoamerických uživatelů v roce 2020 zaměřené na nejnovější aplikace selected-ion flow tube ve spojení s hmotnostní spektrometrií (SIFT-MS).
Přejít na webinář
SIFT-MS Online Users Meeting

SIFT-MS Online Users Meeting

Syft Technologies invites you to join the 2020 North American user group meeting focused on the latest applications of selected ion flow tube mass spectrometry (SIFT-MS).

SIFT-MS users present their latest data from across diverse fields from food chemistry to thermal desorption to workplace safety research.

Day 2 (Times are shown US EDT)

  • 1pm Welcome and procedures reminder (Dr Vaughan Langford, Syft Technologies)

  • 1.10pm Development and validation of an automated SIFT-MS method for VOCs measurement in water (Dr Mark Perkins, Anatune)

  • 1.50pm Detection of volatile compounds emitted by bed bugs (Cimex lectularius L.) using selected-ion flow-tube mass spectrometry (SIFT-MS) (Jesse Balcer, Corteva Agriscience)

2.15pm refreshment break

  • 2.30pm Simultaneous analysis of multiple classes of organic compounds using SIFT-MS (Dr Mitch Rubenstein, Dr Anthony Qualley, USAF-Dayton)

  • 3.25pm Finishing the 2019 story: Part 2. SIFT-MS as a sensory tool for environmental applications (Dr Vaughan Langford, Syft Technologies)

3.45pm refreshment break

  • 4pm Thin-film microextraction for water quality assessment and environmental monitoring (Prof. Emanuela Gionfriddo, University of Toledo)

  • 4.25pm New developments in automated sample handling and preparation combined with SIFTMS analysis (Kurt Thaxton, GERSTEL)

  • 4.50pm Concluding remarks (Dr Vaughan Langford, Syft Technologies)

5pm close for Day 2

See more details including abstracts for all presentation at SIFT-MS User Meeting web page.

Syft Technologies
 

Mohlo by Vás zajímat

Utilizing hyphenated EC-Raman to study a model system

Aplikace
| 2024 | Metrohm
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie

Downstream Petrochemical Processes - Application Compendium

Příručky
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
GC
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie

Analysis of VOC and SVOC Emissions from Automotive Interior Materials Using GCMS-QP2050 in Accordance with VDA 278

Aplikace
| 2024 | Shimadzu
Instrumentace
Termální desorpce, GC/MSD, GC/SQ
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

OMNIS NIRS

Brožury a specifikace
| 2024 | Metrohm
Instrumentace
NIR Spektroskopie, Software
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Ostatní

PEGASUS BTX Series

Brožury a specifikace
| 2024 | LECO
Instrumentace
GC/MSD, GC/TOF
Výrobce
LECO
Zaměření
Ostatní
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.