Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez GCMS
The use of Kendrick mass defect plots, a new feature in GC Image™ software for GC x GC/high resolution mass spectrometric data analysis: an application on the identification of halogenated contaminants in electronic waste
Zpracování GCMS NIST dat v bezplatné softwarové laboratoři pro univerzity: Část 9 - 58 456 dalších spekter pro demonstrační vyhledávání v NIST, bezplatném softwaru pro univerzity