Combined Analysis of a Contaminant Using a Compact FTIR and EDX
Aplikace | 2018 | ShimadzuInstrumentace
Poptávka po spolehlivé identifikaci cizorodých částic v potravinářské a chemické výrobě roste. Energeticky disperzní rentgenová fluorescence (EDX) je vhodná pro analýzu anorganických prvků, zatímco Fourierova transformace infračervené spektroskopie (FTIR) cílí na organické složky. Kombinace obou technik zvyšuje přesnost a efektivitu inspekčních procesů.
Cílem článku je představit workflow pro identifikaci cizího materiálu nalezeného v potravinářském provozu pomocí kompaktního FTIR přístroje IRSpirit a EDX spektrometru EDX-7000, doplněné o software EDXIR-Analysis pro integrovanou analýzu dat.
Metodika spočívá v následujících krocích:
EDX měření odhalilo jako převládající prvky v kontaminantu vápník a fosfor (~96,4 hmotnostních procent). FTIR spektrum bylo nejvíce podobné proteinu. Integrované vyhodnocení v softwaru vyhodnotilo jako nejpravděpodobnější bílou kostní částici tvořenou směsí kalciové fosfátu a proteinové matice. Podpora přiřazení zahrnovala srovnání prvkového profilu, IR spekter a makroskopického vzhledu (barva, tvar, textura).
Metoda přináší tyto výhody:
Očekávané směry dalšího rozvoje:
Kombinované použití FTIR a EDX s EDXIR-Analysis softwarem umožňuje rychlou, přesnou a snadno realizovatelnou identifikaci cizorodých částic v potravinářském prostředí. Metoda přispívá k vyšší účinnosti QA/QC procesů a snižuje závislost na vysoké odborné specializaci obsluhy.
FTIR Spektroskopie, X-ray
ZaměřeníPotraviny a zemědělství
VýrobceShimadzu
Souhrn
Význam tématu
Poptávka po spolehlivé identifikaci cizorodých částic v potravinářské a chemické výrobě roste. Energeticky disperzní rentgenová fluorescence (EDX) je vhodná pro analýzu anorganických prvků, zatímco Fourierova transformace infračervené spektroskopie (FTIR) cílí na organické složky. Kombinace obou technik zvyšuje přesnost a efektivitu inspekčních procesů.
Cíle a přehled studie / článku
Cílem článku je představit workflow pro identifikaci cizího materiálu nalezeného v potravinářském provozu pomocí kompaktního FTIR přístroje IRSpirit a EDX spektrometru EDX-7000, doplněné o software EDXIR-Analysis pro integrovanou analýzu dat.
Použitá metodika a instrumentace
Metodika spočívá v následujících krocích:
- Příprava vzorku: Bílý 4 mm fragment kontaminantu upevněný v držáku EDXIR-Holder pro obě techniky
- FTIR měření: Přístroj IRSpirit-T s ATR příslušenstvím QATR-S (diamantová prizma), rozlišení 4 cm-1, 20 akumulací, detektor DLATGS
- EDX měření: Spektrometr EDX-7000 s Rh cílem, napětí 50 kV, vakuové prostředí, průměr sondy 1 mm, integrační čas 100 s
- Software: EDXIR-Analysis pro propojení FTIR a EDX dat a vyhledávání v knihovně 485 vzorků kontaminantů
Hlavní výsledky a diskuse
EDX měření odhalilo jako převládající prvky v kontaminantu vápník a fosfor (~96,4 hmotnostních procent). FTIR spektrum bylo nejvíce podobné proteinu. Integrované vyhodnocení v softwaru vyhodnotilo jako nejpravděpodobnější bílou kostní částici tvořenou směsí kalciové fosfátu a proteinové matice. Podpora přiřazení zahrnovala srovnání prvkového profilu, IR spekter a makroskopického vzhledu (barva, tvar, textura).
Přínosy a praktické využití metody
Metoda přináší tyto výhody:
- Rychlá a komplexní identifikace kontaminantů bez potřeby samostatné expertízy pro každou techniku
- Jednotné softwarové prostředí určené i pro méně zkušené operátory
- Zefektivnění kontroly kvality v potravinářských a chemických provozech
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekávané směry dalšího rozvoje:
- Dynamické rozšíření knihoven standardních kontaminantů
- Využití strojového učení pro automatickou klasifikaci spekter
- Integrace mobilních a přenosných jednotek pro terénní kontrolu
- Propojení s databázemi výrobních procesů pro prediktivní monitoring
Závěr
Kombinované použití FTIR a EDX s EDXIR-Analysis softwarem umožňuje rychlou, přesnou a snadno realizovatelnou identifikaci cizorodých částic v potravinářském prostředí. Metoda přispívá k vyšší účinnosti QA/QC procesů a snižuje závislost na vysoké odborné specializaci obsluhy.
Reference
- Application News No. A522A – Contaminant Analysis Using EDXIR-Analysis Software for Combined EDX-FTIR Analysis
- Application News No. A527 – Quantifying Silent Change Using EDXIR-Analysis Software EDX-FTIR Contaminant Finder Material Inspector
- Application News No. A537 – Introducing the EDXIR-Holder Sample Holder Stocker for Contaminant Measurement
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Shimadzu FTIR talk letter Vol. 30
2019|Shimadzu|Ostatní
C103-E123 Vol. 30 In Celebration of FTIR TALK LETTER Vol. 30 ------- 02 Development Story of IRSpirit (Technology for Miniaturization and Efficiency) ------- 03 Using EDXIR-Analysis EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector ------- 06 In Celebration of FTIR TALK LETTER Vol. 30…
Klíčová slova
ftir, ftirluster, lustermirror, mirroredx, edxatr, atrcontaminant, contaminantedxir, edxirdata, dataitem, itemhardness, hardnessmetallic, metallicdiamond, diamondinspected, inspectedcontaminants, contaminantslibrary
Solutions for Contaminant Analysis
2023|Shimadzu|Brožury a specifikace
C10G-E099 Solutions for Contaminant Analysis Total Support for Contaminant Analysis and Failure Identification The adulteration of products by contaminants causes a wide range of problems in every sector of industry. These problems can only be resolved by analyzing the contaminating…
Klíčová slova
contaminant, contaminantedx, edxftir, ftirmicroscope, microscopeinfrared, infrarededxir, edxirraman, ramanaimsight, aimsightanalysis, analysisinorganic, inorganicarea, areaairsight, airsightmaterials, materialsatr, atryellowed
Electronics & Chemicals - Application Notebook
2019|Shimadzu|Příručky
C10G-E070 Electronics & Chemicals Solutions for Electronics & Chemicals Application Notebook Introduction Both inorganic and organic analyses are indispensable for electronics industry and related chemical industries. Purposes of analysis are wide ranging, and data generated can give much insight for…
Klíčová slova
contents, contentsback, backmeasurement, measurementanalysis, analysislight, lighttransmittance, transmittancefilm, filmreflectance, reflectancespectra, spectraftir, ftiredx, edxnews, newssample, samplewavelength, wavelengthusing
Introducing the EDXIR-Holder: Sample Holder/Stocker for Contaminant Measurement
2017|Shimadzu|Technické články
LAAN-A-FT-E076 Application News No. A537 Spectrophotometric Analysis Introducing the EDXIR-Holder: Sample Holder/Stocker for Contaminant Measurement In contaminant analysis, an effective technique is to combine EDX, which is suited to the elemental analysis of metals and inorganic compounds, and FTIR, which…
Klíčová slova
edxir, edxirfilm, filmholder, holdercontaminant, contaminantadhesive, adhesiveacrylic, acrylicatr, atrlayer, layerpiece, pieceftir, ftirpolypropylene, polypropylenespectrum, spectrumedx, edxabs, absanalysis