GCMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Fast USEPA 8270 Semivolatiles Analysis Using the 6890/5973 inert GC/MSD with Performance Electronics

Technické články | 2004 | Agilent TechnologiesInstrumentace
GC/MSD, GC/SQ
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Rychlá chromatografická separace vyžaduje odpovídající akviziční rychlost a zachování kvality spektra pro spolehlivou identifikaci a kvantifikaci analyzovaných látek. Agilent 5973 Inert MSD s inovativní elektronikou umožňuje snížit dobu analýzy a přitom udržet citlivost a věrnost hmotnostních spekter.

Cíle a přehled studie


Cílem studie je ilustrovat vliv zvýšených akvizičních rychlostí (až 10000 amu/s) v režimech plného skenu a SIM na počet skenů přes chromatografickou špičku, spektrální kvalitu a přesnost kvantifikace.

Použitá metodika a instrumentace


Metodika:
  • Vyhodnocení počtu skenů na špičku pro kvantitativní (10 skenů) a kvalitativní (4–5 skenů) aplikace.
  • Analýza standardu 20 PCB v isooktanu na sloučeninu biphenyl až decachlorobiphenyl.
  • Srovnání režimů vzorkování n = 3, 2, 1, 0 a Fast mode a jejich vliv na počet skenů.
Instrumentace:
  • GC/MS Agilent 5973 Inert MSD
  • GC sloupec HP-5ms (30 m × 0,25 mm id, 0,25 µm film)
  • Vstřikovač pulsed splitless, 1 µL, 275 °C
  • Oven program: 50 °C (1 min), 45 °C/min do 325 °C (1,6 min)
  • MS parametry: zdroj 250 °C, kvadrupól 150 °C, rozsah 150–510 m/z

Hlavní výsledky a diskuse


U biphenylu (špička ~2,7 s) poskytl režim n=3 6 skenů, n=2 10 skenů, n=1 ~17 skenů, n=0 ~30 skenů a Fast mode ~50 skenů. To potvrzuje předpovězené závislosti mezi šířkou špičky, masovým rozsahem a vzorkováním. Fast režim zvyšuje šum a může mírně snižovat intenzitu signálu. SIM analýzy vyžadují deset skenů pro přesnou kvantifikaci; délka dwell time se volí podle počtu iontů ve skupině. AutoSIM a Retention-Time Locking zajišťují automatické nastavení SIM skupin a konzistentní retence.

Přínosy a praktické využití metody


  • Zvýšená propustnost analýz při zachování kvality spekter.
  • Jednodušší vývoj metod díky automatickému výpočtu dwell time a konfiguraci SIM skupin.
  • Retenční zámek minimalizuje údržbu metod při výměně kolony.

Budoucí trendy a možnosti využití


Další vývoj bude směřovat k vyšší automatizaci tvorby metod a integraci pokročilých dekonvolučních algoritmů pro rychlejší screening komplexních vzorků. Strojové učení by mohlo optimalizovat výběr akvizičních parametrů v reálném čase.

Závěr


Nová elektronika Agilent 5973 Inert MSD poskytuje vysoké akviziční rychlosti až 10000 amu/s s minimální ztrátou citlivosti a spektrální kvality. Správné nastavení vzorkování a využití softwaru AutoSIM a RTL vedou ke spolehlivým a snadno udržitelným metodám v režimu plného skenu i SIM.

Reference


  1. D.E. Matthews, J.M. Hayes. Systematic Errors in Gas Chromatography-Mass Spectrometry Isotope Ratio Measurements. Analytical Chemistry, 48(1976), s. 1375–1382.
  2. P.L. Wylie et al. Comprehensive Pesticide Screening by GC/MSD using Deconvolution Reporting Software. Agilent Technologies, publication 5989-1157EN.
  3. H. Prest, D.W. Peterson. New approaches to the development of GC-MS selected ion monitoring acquisition and quantitation methods. Agilent Technologies, publication 5988-4188EN.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
5973 Inert Performance Electronics: Considerations for GC/MS Methods in Scan and Selective-Ion Monitoring Modes
5973 Inert Performance Electronics: Considerations for GC/MS Methods in Scan and Selected-Ion Monitoring Modes Application Technique/Technology Authors Harry F. Prest, Randy Roushall, Tom Doherty Jim Foote, and James Yano Agilent Technologies, Inc. 5301 Stevens Creek Blvd Santa Clara, CA 95051…
Klíčová slova
scan, scanwidth, widthparameters, parameterspeak, peaktime, timespeed, speedmsd, msdsim, simmass, massconsiderations, considerationsnumber, numberacquisitions, acquisitionsdwell, dwellover, overautosim
New Approaches to the Developmentof GC/MS Selected Ion Monitoring Acquisition and Quantitation Methods
New Approaches to the Development of GC/MS Selected Ion Monitoring Acquisition and Quantitation Methods Technique/Technology Gas Chromatography/Mass Spectrometry Author Harry Prest 1601 California Avenue Palo Alto, CA 94304 USA David W. Peterson 1601 California Avenue Palo Alto, CA 94304 USA…
Klíčová slova
sim, simgroup, grouplocking, lockingquantitation, quantitationpeak, peakminimum, minimumcompounds, compoundsretention, retentioncompound, compounddatabase, databasetime, timesetup, setupions, ionsselected, selectedmerged
Femtogram GC/MSD Detection Limits for Environmental Semivolatiles Using a Triple-Axis Detector
Femtogram GC/MSD Detection Limits for Environmental Semivolatiles Using a Triple-Axis Detector Application Environmental Author Mike Szelewski Agilent Technologies, Inc. 2850 Centerville Road Wilmington, DE 19808 USA Abstract The analysis of semivolatiles at very low levels presents challenges due to analyte…
Klíčová slova
sim, simwashes, washessolv, solvscan, scanptv, ptvmsd, msdcryo, cryotemp, temppurge, purgeoven, ovensemivolatiles, semivolatilespostinj, postinjpreinj, preinjpentachlorophenol, pentachlorophenolautosim
Parts-per-Trillion Level Calibration of Semivolatiles Using LVI-PTV-GC/MSD
Parts-per-Trillion Level Calibration of Semivolatiles Using LVI-PTV-GC/MSD Application Environmental Author Mike Szelewski Agilent Technologies, Inc. 2850 Centerville Road Wilmington, DE 19808 USA Abstract The analysis of semivolatiles in the parts-per-trillion range presents challenges due to analyte activity, background contamination, and…
Klíčová slova
ptv, ptvtemp, tempwashes, washessolv, solvvent, ventmsd, msdcryo, cryosemivolatiles, semivolatilesrtl, rtlpurge, purgecalibration, calibrationsim, simdichloromethane, dichloromethanesolvent, solventoven
Další projekty
LCMS
ICPMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.