Fast USEPA 8270 Semivolatiles Analysis Using the 6890/5973 inert GC/MSD with Performance Electronics
Technické články | 2004 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Rychlá chromatografická separace vyžaduje odpovídající akviziční rychlost a zachování kvality spektra pro spolehlivou identifikaci a kvantifikaci analyzovaných látek. Agilent 5973 Inert MSD s inovativní elektronikou umožňuje snížit dobu analýzy a přitom udržet citlivost a věrnost hmotnostních spekter.
Cílem studie je ilustrovat vliv zvýšených akvizičních rychlostí (až 10000 amu/s) v režimech plného skenu a SIM na počet skenů přes chromatografickou špičku, spektrální kvalitu a přesnost kvantifikace.
Metodika:
U biphenylu (špička ~2,7 s) poskytl režim n=3 6 skenů, n=2 10 skenů, n=1 ~17 skenů, n=0 ~30 skenů a Fast mode ~50 skenů. To potvrzuje předpovězené závislosti mezi šířkou špičky, masovým rozsahem a vzorkováním. Fast režim zvyšuje šum a může mírně snižovat intenzitu signálu. SIM analýzy vyžadují deset skenů pro přesnou kvantifikaci; délka dwell time se volí podle počtu iontů ve skupině. AutoSIM a Retention-Time Locking zajišťují automatické nastavení SIM skupin a konzistentní retence.
Další vývoj bude směřovat k vyšší automatizaci tvorby metod a integraci pokročilých dekonvolučních algoritmů pro rychlejší screening komplexních vzorků. Strojové učení by mohlo optimalizovat výběr akvizičních parametrů v reálném čase.
Nová elektronika Agilent 5973 Inert MSD poskytuje vysoké akviziční rychlosti až 10000 amu/s s minimální ztrátou citlivosti a spektrální kvality. Správné nastavení vzorkování a využití softwaru AutoSIM a RTL vedou ke spolehlivým a snadno udržitelným metodám v režimu plného skenu i SIM.
GC/MSD, GC/SQ
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Rychlá chromatografická separace vyžaduje odpovídající akviziční rychlost a zachování kvality spektra pro spolehlivou identifikaci a kvantifikaci analyzovaných látek. Agilent 5973 Inert MSD s inovativní elektronikou umožňuje snížit dobu analýzy a přitom udržet citlivost a věrnost hmotnostních spekter.
Cíle a přehled studie
Cílem studie je ilustrovat vliv zvýšených akvizičních rychlostí (až 10000 amu/s) v režimech plného skenu a SIM na počet skenů přes chromatografickou špičku, spektrální kvalitu a přesnost kvantifikace.
Použitá metodika a instrumentace
Metodika:
- Vyhodnocení počtu skenů na špičku pro kvantitativní (10 skenů) a kvalitativní (4–5 skenů) aplikace.
- Analýza standardu 20 PCB v isooktanu na sloučeninu biphenyl až decachlorobiphenyl.
- Srovnání režimů vzorkování n = 3, 2, 1, 0 a Fast mode a jejich vliv na počet skenů.
- GC/MS Agilent 5973 Inert MSD
- GC sloupec HP-5ms (30 m × 0,25 mm id, 0,25 µm film)
- Vstřikovač pulsed splitless, 1 µL, 275 °C
- Oven program: 50 °C (1 min), 45 °C/min do 325 °C (1,6 min)
- MS parametry: zdroj 250 °C, kvadrupól 150 °C, rozsah 150–510 m/z
Hlavní výsledky a diskuse
U biphenylu (špička ~2,7 s) poskytl režim n=3 6 skenů, n=2 10 skenů, n=1 ~17 skenů, n=0 ~30 skenů a Fast mode ~50 skenů. To potvrzuje předpovězené závislosti mezi šířkou špičky, masovým rozsahem a vzorkováním. Fast režim zvyšuje šum a může mírně snižovat intenzitu signálu. SIM analýzy vyžadují deset skenů pro přesnou kvantifikaci; délka dwell time se volí podle počtu iontů ve skupině. AutoSIM a Retention-Time Locking zajišťují automatické nastavení SIM skupin a konzistentní retence.
Přínosy a praktické využití metody
- Zvýšená propustnost analýz při zachování kvality spekter.
- Jednodušší vývoj metod díky automatickému výpočtu dwell time a konfiguraci SIM skupin.
- Retenční zámek minimalizuje údržbu metod při výměně kolony.
Budoucí trendy a možnosti využití
Další vývoj bude směřovat k vyšší automatizaci tvorby metod a integraci pokročilých dekonvolučních algoritmů pro rychlejší screening komplexních vzorků. Strojové učení by mohlo optimalizovat výběr akvizičních parametrů v reálném čase.
Závěr
Nová elektronika Agilent 5973 Inert MSD poskytuje vysoké akviziční rychlosti až 10000 amu/s s minimální ztrátou citlivosti a spektrální kvality. Správné nastavení vzorkování a využití softwaru AutoSIM a RTL vedou ke spolehlivým a snadno udržitelným metodám v režimu plného skenu i SIM.
Reference
- D.E. Matthews, J.M. Hayes. Systematic Errors in Gas Chromatography-Mass Spectrometry Isotope Ratio Measurements. Analytical Chemistry, 48(1976), s. 1375–1382.
- P.L. Wylie et al. Comprehensive Pesticide Screening by GC/MSD using Deconvolution Reporting Software. Agilent Technologies, publication 5989-1157EN.
- H. Prest, D.W. Peterson. New approaches to the development of GC-MS selected ion monitoring acquisition and quantitation methods. Agilent Technologies, publication 5988-4188EN.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
5973 Inert Performance Electronics: Considerations for GC/MS Methods in Scan and Selective-Ion Monitoring Modes
2004|Agilent Technologies|Technické články
5973 Inert Performance Electronics: Considerations for GC/MS Methods in Scan and Selected-Ion Monitoring Modes Application Technique/Technology Authors Harry F. Prest, Randy Roushall, Tom Doherty Jim Foote, and James Yano Agilent Technologies, Inc. 5301 Stevens Creek Blvd Santa Clara, CA 95051…
Klíčová slova
scan, scanwidth, widthparameters, parameterspeak, peaktime, timespeed, speedmsd, msdsim, simmass, massconsiderations, considerationsnumber, numberacquisitions, acquisitionsdwell, dwellover, overautosim
New Approaches to the Developmentof GC/MS Selected Ion Monitoring Acquisition and Quantitation Methods
2001|Agilent Technologies|Technické články
New Approaches to the Development of GC/MS Selected Ion Monitoring Acquisition and Quantitation Methods Technique/Technology Gas Chromatography/Mass Spectrometry Author Harry Prest 1601 California Avenue Palo Alto, CA 94304 USA David W. Peterson 1601 California Avenue Palo Alto, CA 94304 USA…
Klíčová slova
sim, simgroup, grouplocking, lockingquantitation, quantitationpeak, peakminimum, minimumcompounds, compoundsretention, retentioncompound, compounddatabase, databasetime, timesetup, setupions, ionsselected, selectedmerged
Femtogram GC/MSD Detection Limits for Environmental Semivolatiles Using a Triple-Axis Detector
2008|Agilent Technologies|Aplikace
Femtogram GC/MSD Detection Limits for Environmental Semivolatiles Using a Triple-Axis Detector Application Environmental Author Mike Szelewski Agilent Technologies, Inc. 2850 Centerville Road Wilmington, DE 19808 USA Abstract The analysis of semivolatiles at very low levels presents challenges due to analyte…
Klíčová slova
sim, simwashes, washessolv, solvscan, scanptv, ptvmsd, msdcryo, cryotemp, temppurge, purgeoven, ovensemivolatiles, semivolatilespostinj, postinjpreinj, preinjpentachlorophenol, pentachlorophenolautosim
Parts-per-Trillion Level Calibration of Semivolatiles Using LVI-PTV-GC/MSD
2007|Agilent Technologies|Aplikace
Parts-per-Trillion Level Calibration of Semivolatiles Using LVI-PTV-GC/MSD Application Environmental Author Mike Szelewski Agilent Technologies, Inc. 2850 Centerville Road Wilmington, DE 19808 USA Abstract The analysis of semivolatiles in the parts-per-trillion range presents challenges due to analyte activity, background contamination, and…
Klíčová slova
ptv, ptvtemp, tempwashes, washessolv, solvvent, ventmsd, msdcryo, cryosemivolatiles, semivolatilesrtl, rtlpurge, purgecalibration, calibrationsim, simdichloromethane, dichloromethanesolvent, solventoven